投影機
- 【用途】光学形状測定
表示条件:全て 依頼試験のみ
投影機
万能材料試験機(1122型・5kN)
万能材料試験機(UCT-25T・250kN)
X線回折装置
蛍光X線分析装置
X線応力解析装置
液体クロマトグラフ
ガスクロマトグラフ
熱膨張記録計
冷熱衝撃試験機
測色色差計
ポテンショスタット
テクスチュロメーター
デジタルロックウェル硬さ試験機
レオメータ
赤外線熱画像測定装置
自動ボンベ熱量計
温湿度サイクル試験装置
真空蒸着装置
凍結乾燥機
嫌気性培養装置
エレマ電気炉
サンドブラスター
アイマークレコーダー
電子線マイクロアナライザ(EPMA)
ホストCGシステム
モニタリングシステム
広範囲荷重摩耗試験機
計装化シャルピー 衝撃試験機
マイクロビッカース硬さ試験機
高速三次元成形機(樹脂粉末積層3Dプリンタ)
3次元CAD/CAM/CAE
光デバイス用自動光軸調整装置
超精密研磨機
高精度マスクアライメント装置
回転動摩擦摩耗試験機
走査電子顕微鏡(SEM)
画像測定機
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
レーザプローブ式非接触三次元測定装置
FEオージェ電子分光分析装置
万能材料試験機(UH-1000kNI・1000kN)
倒立型金属顕微鏡
超低温恒温器
炭素硫黄分析装置
飛行時間型液体クロマトグラフ質量分析装置(LC-TOF/MS)
リアルタイムPCR装置
低抵抗率計
工業用X線透視装置
粒子径分布測定装置
分光蛍光光度計
精密真円度・円筒形状測定機
ナノインデンテーション試験機
光コンポーネントアナライザシステム
ベクトルネットワークアナライザ
サンプリングオシロスコープ
光スペクトラムアナライザ
電磁波シールド特性測定システム
蛍光マイクロプレートリーダー
レーザーラマン顕微鏡
曲面微細形状測定システム
蛍光X線膜厚計
定盤 (場所:綾部)
チェックマスタ (場所:綾部)
ハイトマスタ (場所:綾部)
ハイトゲージ (場所:綾部)
マイクロメータ (場所:綾部)
内測マイクロメータ (場所:綾部)
セラミックブロックセット (場所:綾部)
ゲージブロックセット (場所:綾部)
携帯用表面粗さ計 (場所:綾部)
タッピングボール盤 (場所:綾部)
手動折り曲げ機 (場所:綾部)
ひずみゲージ式センサ・アンプユニット (場所:綾部)
振動試験機(16kN) (場所:綾部)
ロックウェル硬さ試験機 (場所:綾部)
マイクロビッカース硬さ試験機 (場所:綾部)
簡易携帯硬さ試験機 (場所:綾部)
反発式ポータブル硬さ試験機 (場所:綾部)
鏡面ショット研磨機 (場所:綾部)
電気溶接機 (場所:綾部)
ベルト研磨機 (場所:綾部)
両頭グラインダ (場所:綾部)
高速切断機 (場所:綾部)
帯ノコ盤 (場所:綾部)
電気マッフル炉 (場所:綾部)
シンクロスコープ (場所:綾部)
データレコーダー (場所:綾部)
FFTアナライザー (場所:綾部)
レーザ顕微鏡 (場所:綾部)
金属顕微鏡 (場所:綾部)
実体顕微鏡 (場所:綾部)
蛍光顕微鏡 (場所:綾部)
金相試料作製装置 (場所:綾部)
ガスクロマトグラフ質量分析装置 (場所:綾部)
液体クロマトグラフ (場所:綾部)
紫外・可視分光光度計 (場所:綾部)
細管式レオメータ (場所:綾部)
微量水分計 (場所:綾部)
有機合成用ドラフトチャンバー (場所:綾部)
示差走査熱量測定装置 (場所:綾部)
レーザ回折式粒度分布測定装置 (場所:綾部)
温湿度サイクル試験装置(800L) (場所:綾部)
小型高温チャンバー (場所:綾部)
接触角測定装置 (場所:綾部)
真空定温乾燥器 (場所:綾部)
分光色差計 (場所:綾部)
脈波計 (場所:綾部)
非接触3次元デジタイザ (場所:綾部)
ストロボスコープ (場所:綾部)
デジタルハイスピードカメラ (場所:綾部)
CNC三次元測定機 (場所:綾部)
表面粗さ・輪郭形状測定機 (場所:綾部)
真円度・円筒形状測定機 (場所:綾部)
リングゲージ (場所:綾部)
騒音計 (場所:綾部)
振動計 (場所:綾部)
旋盤 (場所:綾部)
フライス盤 (場所:綾部)
小型旋盤 (場所:綾部)
万能材料試験機(250kN) (場所:綾部)
万能材料試験機(5kN) (場所:綾部)
マイクロフォーカスX線透視装置 (場所:綾部)
PICマイコンデバッガ (場所:綾部)
ファンクションジェネレータ (場所:綾部)
ユニバーサルカウンタ (場所:綾部)
直流安定化電源装置 (場所:綾部)
EMC測定システム (場所:綾部)
走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (場所:綾部)
デジタルマイクロスコープ (場所:綾部)
X線回折装置Ⅱ (場所:綾部)
分光蛍光光度計 (場所:綾部)
フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付) (場所:綾部)
アミノ酸分析装置 (場所:綾部)
3Dプリンター(ラピッドプロトタイプ) (場所:綾部)
蛍光X線膜厚計 (場所:綾部)
電磁・渦電流膜厚計 (場所:綾部)
振動レベル計 (場所:綾部)
機械振動周波数分析システム (場所:綾部)
三次元光学プロファイラー (場所:綾部)
走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (場所:綾部)
スパーク放電発光分析装置 (場所:綾部)
クロスセクションポリッシャ (場所:綾部)
蛍光X線分析装置(EDX-7000) (場所:綾部)
赤外線サーモグラフィ(R500EX-Pro) (場所:綾部)
コンタミネーション解析システム (場所:綾部)
高精細3Dプリンタ (場所:綾部)
高精細3Dプリンタ (場所:綾部)
3次元スキャナ (場所:綾部)
VDIシミュレーション (場所:綾部)
三次元スキャナ(3D Scanner)
耐候性評価システム(キセノン)
耐候性評価システム(メタルハライド)
顕微紫外可視近赤外分光光度計
表面物性試験装置(CSR-2000)
ミックスドシグナルオシロスコープ
オシロスコープ
マイクロフォーカスX線CTシステム
イオン分析計
示差熱・熱重量測定装置
示差走査熱量計
熱機械分析装置
熱伝導率測定装置
分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS)
万能材料試験機(E10000LT)
グロー放電発光分析装置
噴霧乾燥機
X線光電子分光分析装置
精密ダイヤモンドバンドソー
4Kメモリーカムコーダー
光学特性評価システム
超音波ホモジナイザー
電磁波妨害評価試験装置(G-TEM)
分光エリプソメータ
テラヘルツ非破壊検査装置
ナノサーチ複合型顕微鏡
ICP発光分光分析装置
CNC三次元座標測定機
塩水噴霧試験機
複合サイクル腐食試験機
高速開発支援センター (場所:綾部)
EMC試験設備(電波暗室)