走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (場所:綾部)

 有機・無機材料のサブミクロン領域の微細な表面構造解析、元素分析、結晶方位解析ができます。

 

 

 

メーカ・型式
日本電子
JSM-IT300HR 及びJED-2300 Analysis Station Plus 
性 能
分解能 [高真空モード]1.5nm(30kV)
    [低真空モード]1.8nm (15kV)
倍率 5~600,000倍
 元素分析(EDS) Be~U 定性・定量分析 元素マッピング機能付き
試料ステージ X:125,Y:100,Z:80mm
傾斜 -10~90度
回転 360度
用 途
各種試料の表面観察
設置年度
2017年度
担 当
中丹支援技術室
TEL 0773-43-4340     FAX     0773-43-4341
E-mail chutan@kptc.jp
使用料(基本額)
観察のみ
観察+元素分析
観察+結晶方位分析
観察+元素分析+結晶方位分析