有機・無機材料のサブミクロン領域の微細な表面構造解析、元素分析、結晶方位解析ができます。
- メーカ・型式
- 日本電子
JSM-IT300HR 及びJED-2300 Analysis Station Plus - 性 能
- 分解能 [高真空モード]1.5nm(30kV)
[低真空モード]1.8nm (15kV)
倍率 5～600,000倍
元素分析(EDS) Be～U 定性・定量分析 元素マッピング機能付き
試料ステージ X:125,Y:100,Z:80mm
傾斜 -10～90度 - 回転 360度
- 用 途
- 各種試料の表面観察
- 設置年度
- 2017年度
- 担 当
- 中丹支援技術室
- TEL 0773－43－4340 FAX 0773－43－4341
E-mail chutan@kptc.jp - 使用料（基本額）
-
観察のみ
観察＋元素分析
観察＋結晶方位分析
観察＋元素分析＋結晶方位分析
(検索ﾜｰﾄﾞ:非表示),SEM,sem,EDS,eds,EDX,edx,SEM-EDS,SEM-eds,sem-EDS,sem-eds,SEM・EDS,ＳＥＭ・eds,sem・EDS,sem・eds,電顕,セム,ｾﾑ,せむ,EBSD,ebsd
参考情報