精密測定検査用 / 材料試験用 / 機械加工用 / 電気試験用 / 顕微鏡及び試料作製装置 /
分析用 / 表面処理・環境試験用 / 微生物・食品試験用 / 映像・工芸技術用 / 造形・試作用
1 精密測定検査用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
007 | 投影機 | VS-300 | 神港精機 | 250 |
172 | 画像測定機 | Smart ScopeVantage 600 | OGP | 4,480 |
175 | レーザプローブ式非接触三次元測定装置 | NH-3SP | 三鷹光器 | 3,770 |
188 | 精密真円度・円筒形状測定機 | タリロンド595 | アメテックス(株)テーラーホブソン事業部 | 5,610 |
197 | 曲面微細形状測定システム (接触式測定) |
フォームタリサーフPGI 1200 | アメテックス(株)テーラーホブソン事業部 | 4,480 |
198 | 曲面微細形状測定システム (非接触式測定) |
VR-3200 | キーエンス | 1,120 |
301 | 定盤 (場所:綾部) |
グラプレートNo.517-409 | ミツトヨ | 150 |
302 | チェックマスタ (場所:綾部) |
HMC-1000H | ミツトヨ | 150 |
303 | ハイトマスタ (場所:綾部) |
HME-600DM | ミツトヨ | 150 |
304 | ハイトゲージ (場所:綾部) |
HDM-100AHD-30A,HS-30 | ミツトヨ | 100 |
305 | マイクロメータ (場所:綾部) |
MDC-25MJ他 | ミツトヨ | 100 |
306 | 内測マイクロメータ (場所:綾部) |
HT-12ST他 | ミツトヨ | 100 |
307 | セラミックブロックセット (場所:綾部) |
BM3-112-K | ミツトヨ | 350 |
308 | ゲージブロックセット (場所:綾部) |
No.613802-013 他 | ミツトヨ | 200 |
309 | 携帯用表面粗さ計 (場所:綾部) |
SJ-301/0.75mN | ミツトヨ | 450 |
330 | レーザ顕微鏡 (場所:綾部) |
LEXT OLS3100 | オリンパス | 2,140 |
353 | CNC三次元測定機 (場所:綾部) |
Crysta-ApexC9166 | ミツトヨ | 3,260 |
354 | 表面粗さ・輪郭形状測定機 (場所:綾部) |
SV-C4000CNC | ミツトヨ | 1,930 |
355 | 真円度・円筒形状測定機 (場所:綾部) |
RA-H5100CNC | ミツトヨ | 2,340 |
356 | リングゲージ (場所:綾部) |
No.177-146他 | ミツトヨ | 150 |
386 | 三次元光学プロファイラー (場所:綾部) |
ザイゴ | 3,770 |
2 材料試験用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
015 | 万能材料試験機(UCT-25T・250kN) | UCT-25T | オリエンテック | 1,930 |
032 | X線応力解析装置 | MSF-2M | 理学電機 | 1,530 |
038 | 熱膨張記録計 | DL-7000H | 真空理工 | 910 |
061 | デジタルロックウェル硬さ試験機 | ARD型 | アカシ | 200 |
091 | エレマ電気炉 | KD-10ST | ロペット | 350 |
129 | 広範囲荷重摩耗試験機 | NUS-ISO-3 | スガ試験機 | 100 |
137 | 計装化シャルピー 衝撃試験機 | CHARPAC | 米倉製作所 | 450 |
139 | マイクロビッカース硬さ試験機 | HMV2000AD | 島津製作所 | 250 |
165 | 回転動摩擦摩耗試験機 | TRI-S-500NP | 高千穂精機 | 1,020 |
178 | 万能材料試験機(UH-1000kNI・1000kN) | UH-1000kNI | 島津製作所 | 3,060 |
189 | ナノインデンテーション試験機 | ENT-2100 | エリオニクス | 1,830 |
312 | ひずみゲージ式センサ・アンプユニット (場所:綾部) |
LU-100KE,LU-1TE, LU-10TE,AS-10HB, AS-100HA,PG-10KU, PG-100KU,DT20D, DPM-712B |
共和電業 | 200 |
314 | ロックウェル硬さ試験機 (場所:綾部) |
ARKー600 | ミツトヨ | 400 |
315 | マイクロビッカース硬さ試験機 (場所:綾部) |
FM-700 | フューチュアテック | 450 |
316 | 簡易携帯硬さ試験機 (場所:綾部) |
エコーチップ 硬さ試験機 |
プロセク | 200 |
317 | 反発式ポータブル硬さ試験機 (場所:綾部) |
HARDMATIC HH-411 | ミツトヨ | 100 |
325 | 電気マッフル炉 (場所:綾部) |
FUM332PA | アドバンテック東洋 | 150 |
328 | FFTアナライザー (場所:綾部) |
EDX-2000A | 共和電業 | 400 |
358 | 振動計 (場所:綾部) |
VM-82 (ピックアップ:PV-57A) |
リオン | 100 |
363 | 万能材料試験機(250kN) (場所:綾部) |
AG-250kNIS MO | 島津製作所 | 3,670 |
364 | 万能材料試験機(5kN) (場所:綾部) |
AG-5kNIS | 島津製作所 | 1,020 |
365 | マイクロフォーカスX線透視装置 (場所:綾部) |
SMX3000micro | 島津製作所 | 3,870 |
385 | 機械振動周波数分析システム (場所:綾部) |
EDX-200A-1 | 共和電業 | 300 |
396 | 赤外線サーモグラフィ(R500EX-Pro) (場所:綾部) |
R500EX-Pro | 日本アビオニクス | 560 |
509 | マイクロフォーカスX線CTシステム | TOSCANCSR-32300µFD | 東芝ITコントロールシステム | 4,080 |
517 | 万能材料試験機(E10000LT) | E10000LT | インストロン | 4,890 |
518 | 万能材料試験機(E10000LT) (恒温槽仕様) |
E10000LT | インストロン | 5,910 |
538 | 万能材料試験機(68TM-30E2F2・30kN) | 68TM-30E2F2 | インストロン | 3,700 |
539 | 万能材料試験機(68TM-30E2F2・30kN) (恒温槽仕様) |
68TM-30E2F2 | インストロン | 5,100 |
540 | 万能材料試験機(68TM-30E2F2・30kN)用伸び計 | 68TM-30E2F2 | インストロン | 850 |
541 | 万能材料試験機用3D-DIC | VIC-3D | Correlated Solutions | 1,300 |
542 | 万能材料試験機用ハイスピードカメラ | FASTCAM Nova S6 | フォトロン | 1,500 |
3 機械加工用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
310 | タッピングボール盤 (場所:綾部) |
KRT-340R | キラ・コーポレーション | 100 |
311 | 手動折り曲げ機 (場所:綾部) |
LD-414 | 盛光 | 100 |
319 | 鏡面ショット研磨機 (場所:綾部) |
SMAPⅡ型 | 東洋研磨材工業 | 560 |
320 | 電気溶接機 (場所:綾部) |
デジタル溶接機 | 松下溶接システム | 1,530 |
321 | ベルト研磨機 (場所:綾部) |
FS-2N | 淀川電機製作所 | 200 |
322 | 両頭グラインダ (場所:綾部) |
FG-205T | 淀川電機製作所 | 150 |
323 | 高速切断機 (場所:綾部) |
SK-1 | 昭和機械工業 | 100 |
324 | 帯ノコ盤 (場所:綾部) |
VZ-300 | ワイエス工機 | 100 |
359 | 旋盤 (場所:綾部) |
LEO-80A | テクノワシノ | 910 |
360 | フライス盤 (場所:綾部) |
KGJP-55 | 牧野フライス製作所 | 1,530 |
361 | 小型旋盤 (場所:綾部) |
EB-10 | エグロ | 300 |
362 | 3次元切削モデリングシステム (場所:綾部) |
MDX-500R | モデリングアール | 1,320 |
4 電気試験用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
067 | 赤外線熱画像測定装置 | TVS-200MkⅡST | 日本アビオニクス | 1,830 |
079 | 真空蒸着装置 | EBH-6 | 日本真空技術 | 660 |
155 | 光デバイス用自動光軸調整装置 | U4224 | 駿河精機 | 1,020 |
156 | 超精密研磨機 | 1 超精密ラッピングポリシング装置(PM5MA-20K型) 2 ダイヤモンドデスクソー (モデル15) |
丸本ストルアル | 1,220 |
157 | 高精度マスクアライメント装置 | MA-20K型 | ミカサ | 1,120 |
184 | 低抵抗率計 | Loresta-GP MCP-T610 | 三菱化学アナリテック | 150 |
190 | 光コンポーネントアナライザシステム | N4375D | アジレントテクノロジー | 5,610 |
191 | ベクトルネットワークアナライザ | ME7838A | アンリツ | 8,770 |
192 | サンプリングオシロスコープ | 86100D | アジレントテクノロジー | 2,340 |
193 | 光スペクトラムアナライザ | AQ6370C(Z) | 横河メータ&インスツルメンツ | 610 |
194 | 電磁波シールド特性測定システム | N9000A | アジレントテクノロジー | 510 |
326 | シンクロスコープ (場所:綾部) |
DL9040 | 横河電機 | 200 |
327 | データレコーダー (場所:綾部) |
LX-10 | ティアック | 200 |
366 | PICマイコンデバッガ (場所:綾部) |
MPLABICD2 | マイクロチップ | 100 |
367 | ファンクションジェネレータ (場所:綾部) |
SG-4105 | 岩通計測 | 100 |
368 | ユニバーサルカウンタ (場所:綾部) |
SC-7206 | 岩通計測 | 100 |
369 | 直流安定化電源装置 (場所:綾部) |
PAN35-5A | 菊水電子工業 | 100 |
370 | EMC測定システム (場所:綾部) |
GTEM750 | シャフナー | 3,570 |
507 | ミックスドシグナルオシロスコープ | MS070804 | テクトロニス | 1,530 |
508 | オシロスコープ | MD03054 | テクトロニス | 200 |
525 | 光学特性評価システム (大型積分球使用) |
SR8-LED | システムロード社 | 5,810 |
526 | 光学特性評価システム (小型積分球使用) |
SR8-LED | システムロード社 | 5,200 |
527 | 光学特性評価システム (可視光配光ユニット使用) |
SR8-LED | システムロード社 | 5,400 |
528 | 光学特性評価システム (近赤外光配光ユニット使用) |
SR8-LED | システムロード社 | 5,200 |
530 | 電磁波妨害評価試験装置(G-TEM) (エミッション測定) |
GTEM 750, N9010A-507, A009K251-5757R, A080M102-5757R, GA701M282-4850R-LCAなど |
TESEQ, Keysight Technologies, アールアンドケー他 |
3,160 |
531 | 電磁波妨害評価試験装置(G-TEM) (イミュニティ試験) |
GTEM 750, N9010A-507, A009K251-5757R, A080M102-5757R, GA701M282-4850R-LCAなど |
TESEQ, Keysight Technologies, アールアンドケー他 |
5,710 |
5 顕微鏡及び試料作製装置
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
123 | モニタリングシステム | KH-2200 | ビジネスリンクス | 510 |
170 | 走査電子顕微鏡(SEM) | JSM-6701F | 日本電子 | 3,360 |
179 | 倒立型金属顕微鏡 | GX51/DP72 | オリンパス | 860 |
331 | 金属顕微鏡 (場所:綾部) |
TME200BD | ニコン | 250 |
332 | 実体顕微鏡 (場所:綾部) |
SMZ1000 | ニコン | 100 |
333 | 蛍光顕微鏡 (場所:綾部) |
BX51 | オリンパス | 610 |
334 | 金相試料作製装置 (場所:綾部) |
ラボプレス1, テグラポール21, テグラフォース3, テグラドーザ1, ディスコトム6 |
丸本ストルアス | 6,220 |
371 | 走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (観察のみ) (場所:綾部) |
JSM-6390LA | 日本電子 | 3,360 |
372 | 走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (観察+元素分析) (場所:綾部) |
JSM-6390LA | 日本電子 | 4,990 |
373 | デジタルマイクロスコープ (場所:綾部) |
KH7700 | ハイロックス | 810 |
389 | 走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (観察のみ) (場所:綾部) |
JSM-IT300HR 及び JED-2300 Analysis Station Plus |
日本電子 | 3,460 |
390 | 走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (観察+元素分析) (場所:綾部) |
JSM-IT300HR 及び JED-2300 Analysis Station Plus |
日本電子 | 5,300 |
391 | 走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (観察+結晶方位分析) (場所:綾部) |
JSM-IT300HR 及び JED-2300 Analysis Station Plus |
日本電子 | 6,120 |
392 | 走査電子顕微鏡(JSM-IT-300HR/LA) (観察+元素分析+結晶方位分析) (場所:綾部) |
JSM-IT300HR 及び JED-2300 Analysis Station Plus |
日本電子 | 7,850 |
394 | クロスセクションポリッシャ (場所:綾部) |
IB-19530CP | 日本電子 | 810 |
397 | コンタミネーション解析システム (場所:綾部) |
RH-2000-PC | ハイロックス | 1,420 |
409 | クライオミル(場所:綾部) | CryoMill | ヴァーダー・サイエンティフィック | 450 |
515 | 分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (観察のみ) |
JSM-7100F | 日本電子 | 4,380 |
516 | 分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (観察+元素分析) |
JSM-7100F | 日本電子 | 5,610 |
523 | 精密ダイヤモンドバンドソー | BS-300CL | メイワフォーシス | 1,020 |
534 | ナノサーチ複合型顕微鏡 (レーザー顕微鏡) |
SFT-4500 | 島津製作所 | 3,300 |
535 | ナノサーチ複合型顕微鏡 (レーザー+プローブ顕微鏡) |
SFT-4500 | 島津製作所 | 6,500 |
536 | ナノサーチ複合型顕微鏡 (試料調整:回転式ミクロトーム) |
SFT-4500 | 島津製作所 | 2,000 |
6 分析用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
018 | X線回折装置 | RINT-UltimaⅢ | リガク | 3,970 |
035 | 液体クロマトグラフ | Prominence | 島津製作所 | 910 |
047 | 測色色差計 | SQ2000 | 日本電色工業 | 300 |
074 | 自動ボンベ熱量計 | 1013-H | 吉田製作所 | 300 |
105 | 電子線マイクロアナライザ(EPMA) (WDS又はEDS) |
JXA-8200 | 日本電子 | 5,200 |
106 | 電子線マイクロアナライザ(EPMA) (WDS及びEDS) |
JXA-8200 | 日本電子 | 5,810 |
107 | 電子線マイクロアナライザ(EPMA) (WDS(カラーマッピングを含む)) |
JXA-8200 | 日本電子 | 6,520 |
108 | 電子線マイクロアナライザ(EPMA) (全仕様) |
JXA-8200 | 日本電子 | 7,240 |
174 | フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) | IRPrestige-21 | 島津製作所 | 2,650 |
176 | FEオージェ電子分光分析装置 (全仕様) |
PHI-700 | アルバック・ファイ | 11,220 |
177 | FEオージェ電子分光分析装置 (イオン銃不使用) |
PHI-700 | アルバック・ファイ | 8,160 |
181 | 炭素硫黄分析装置 | CS-844 | LECO | 2,550 |
182 | 飛行時間型液体クロマトグラフ質量分析装置(LC-TOF/MS) | micrOTOF2-kp | ブルカー・ダルトニクス | 4,890 |
186 | 粒子径分布測定装置 | SALD-2300 | 島津製作所 | 560 |
187 | 分光蛍光光度計 | F-7000 | 日立ハイテクノロジーズ | 610 |
195 | 蛍光マイクロプレートリーダー | SH-9000Lab | コロナ電機 | 810 |
196 | レーザーラマン顕微鏡 | RAMAN touch | ナノフォトン | 2,040 |
336 | 液体クロマトグラフ (場所:綾部) |
Prominence | 島津製作所 | 910 |
337 | 紫外・可視分光光度計 (場所:綾部) |
V-630 | 日本分光 | 150 |
339 | 細管式レオメータ (場所:綾部) |
CFT-500D | 島津製作所 | 810 |
340 | 微量水分計 (場所:綾部) |
CA-21 | ダイアインスツルメンツ | 610 |
341 | ドラフトチャンバー (場所:綾部) |
RFG-150SZ | ヤマト科学 | 910 |
342 | 示差走査熱量測定装置 (場所:綾部) |
DSC-60A | 島津製作所 | 760 |
343 | レーザ回折式粒度分布測定装置 (場所:綾部) |
SALD-2200 | 島津製作所 | 860 |
348 | 分光色差計 (場所:綾部) |
NF-333 | 日本電色工業 | 100 |
349 | 脈波計 (場所:綾部) |
APG-1000 | ACIMedical | 610 |
375 | X線回折装置Ⅱ (場所:綾部) |
XRD-6100 | 島津製作所 | 1,630 |
376 | 分光蛍光光度計 (場所:綾部) |
F-7000 | 日立ハイテクノロジーズ | 610 |
377 | フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付) (場所:綾部) |
IRPrestige-21AIM-8800 | 島津製作所 | 2,650 |
379 | アミノ酸分析装置 (場所:綾部) |
L-8900 | 日立ハイテクノロジーズ | 2,850 |
393 | スパーク放電発光分析装置 (場所:綾部) |
PDA-7000 | 島津製作所 | 2,750 |
395 | 蛍光X線分析装置(EDX-7000) (場所:綾部) |
EDX-7000 | 島津製作所 | 1,730 |
405 | ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS-QP2020 NX)(オプションなし)(場所:綾部) | GCMS-QP2020 NX | 島津製作所 | 4,300 |
406 | ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS-QP2020 NX)(パイロライザー)(場所:綾部) | GCMS-QP2020 NX | 島津製作所 | 6,000 |
407 | ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS-QP2020 NX)(ヘッドスペースサンプラー)(場所:綾部) | GCMS-QP2020 NX | 島津製作所 | 5,200 |
408 | ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS-QP2020 NX)(ダイレクトインジェクション)(場所:綾部) | GCMS-QP2020 NX | 島津製作所 | 4,400 |
505 | 顕微紫外可視近赤外分光光度計 | MSV-5200 DGK | 日本分光 | 3,570 |
510 | イオン分析計 | DionexICS-1100 | サーモフィッシャーサイエンティフィック | 960 |
511 | 示差熱・熱重量測定装置 | DTG-60H | 島津製作所 | 660 |
512 | 示差走査熱量計 | DSC-60Plus | 島津製作所 | 860 |
513 | 熱機械分析装置 | TMA-60 | 島津製作所 | 1,120 |
514 | 熱伝導率測定装置 | LFA467 | ネッチ・ジャパン | 2,140 |
519 | グロー放電発光分析装置 | GD Profiler2 | 堀場製作所 | 7,650 |
521 | X線光電子分光分析装置 (イオン銃) |
PHI5000VersaProbe2 | アルバック・ファイ | 10,200 |
522 | X線光電子分光分析装置 (ガスクラスターイオン銃) |
PHI5000VersaProbe2 | アルバック・ファイ | 13,260 |
532 | 分光エリプソメータ | UVSEL2 | 堀場製作所 | 8,670 |
533 | テラヘルツ非破壊検査装置 | TAS7500TS | アドバンテスト | 10,200 |
543 | 波長分散型蛍光X線分析装置 | ZSX PrimusⅣ | リガク | 5,600 |
544 | ハンドヘルド蛍光X線分析装置 | Niton XL2-Plus | Thermo Fisher Scientific | 1,000 |
545 | 高速液体クロマトグラフ (HPLC) |
Nexera XR | 株式会社島津製作所 | 3,800 |
7 表面処理・環境試験用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
048 | ポテンショスタット | HZ-5000 | 北斗電工 | 250 |
076 | 温湿度サイクル試験装置 | PSL-2K | エスペック | 710 |
180 | 超低温恒温器 | MC-811P | エスペック | 400 |
199 | 蛍光X線膜厚計 | EA6000VX | 日立ハイテクサイエンス | 2,040 |
313 | 振動試験機(16kN) (場所:綾部) |
F-16000BDH/LA16AW | エミック | 2,650 |
344 | 温湿度サイクル試験装置(800L) (場所:綾部) |
PL-4K/P計装 | エスペック | 960 |
345 | 小型高温チャンバー (場所:綾部) |
ST-120B1 | エスペック | 100 |
346 | 接触角測定装置 (場所:綾部) |
FTA-125 | FTA | 560 |
347 | 真空定温乾燥器 (場所:綾部) |
DP43 | ヤマト科学 | 350 |
357 | 騒音計 (場所:綾部) |
NL-22 | リオン | 100 |
382 | 蛍光X線膜厚計 (場所:綾部) |
SFT9400 | エスアイアイ・ナノテクノロジー | 2,140 |
383 | 電磁・渦電流膜厚計 (場所:綾部) |
LZ-200J | ケット科学研究所 | 200 |
384 | 振動レベル計 (場所:綾部) |
VM-53A (ピックアップ:PV-83C) |
リオン | 100 |
503 | 耐候性評価システム (キセノン) |
XER-W75 | 岩崎電気 | 1,630 |
504 | 耐候性評価システム (メタルハライド) |
SUV-W161 | 岩崎電気 | 1,530 |
506 | 表面物性試験装置(CSR-2000) | CSR-2000 | レスカ | 3,060 |
537 | 冷熱衝撃試験装置(TSA-103ES-W) | TSA-103ES-W | エスペック | 2,200 |
8 微生物・食品試験用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
058 | テクスチュロメーター | GTX-2-IN | 全研 | 560 |
064 | レオメータ | NRM-2010J-CW | 不動工業 | 250 |
081 | 凍結乾燥機 | FDU-1000 | 東京理化器械 | 200 |
085 | 嫌気性培養装置 | EAN-140 | タバイエスペック | 200 |
183 | リアルタイムPCR装置 | Thermal CyclerDice RealTimeSystem 2 | タカラバイオ | 560 |
520 | 噴霧乾燥機 | SD-1000 | 東京理化器械 | 400 |
529 | 超音波ホモジナイザー | Q500 | Qsonica | 150 |
9 映像・工芸技術用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
097 | サンドブラスター | SGK-3型 | 不二製作所 | 150 |
103 | アイマークレコーダー | EMR-V | ナック | 760 |
112 | ホストCGシステム (基本システム) |
ONYX | シリコングラフィックス | 4,990 |
113 | ホストCGシステム (全仕様システム(画像・映像の入出力機器を含む)) |
ONYX | シリコングラフィックス | 7,030 |
351 | ストロボスコープ (場所:綾部) |
MS-600 | 菅原研究所 | 100 |
352 | デジタルハイスピードカメラ (場所:綾部) |
MEMORECAMfxK4 | ナック | 1,420 |
524 | 4Kメモリーカムコーダー | PXW-Z100 | ソニー | 100 |
10 造形・試作用
№ | 機器名 | 型式 | メーカー | 基本額(円) (1機につき 1時間) |
---|---|---|---|---|
140 | 高速三次元成形機(樹脂粉末積層3Dプリンタ) | RaFaEl 300F | アスペクト | 7,030 |
162 | 3次元CAD/CAM/CAE | ThinkDesign | think3 | 250 |
350 | 非接触3次元デジタイザ (場所:綾部) |
VIVID9i | コニカミノルタセンシング | 1,630 |
381 | 3Dプリンター(ラピッドプロトタイプ) (場所:綾部) |
dimension Elite | Stratasys | 3,060 |
398 | 高速開発支援センター 高精細3Dプリンタ (場所:綾部) |
AGILISTA-3200 | キーエンス | 2,550 |
399 | 高速開発支援センター 3次元スキャナ (場所:綾部) |
ATOS core45, 200,500 |
Gom | |
400 | 高速開発支援センター VDIシミュレーション (場所:綾部) |
Mechanical Enterprise, CFD Enterprise, HFSSMaxwell 3D, ADINA, ソリッドワークス |
ANSYS 他 | |
501 | 三次元スキャナ(3D Scanner) (本体) |
FARO EdgeScanArm ES 9ft | ファロー | 1,730 |
502 | 三次元スキャナ(3D Scanner) (ソフトウェア) |
FARO EdgeScanArm ES 9ft | ファロー | 910 |