走査電子顕微鏡 (SEM-EDS) (場所:綾部)

メーカ・型式
日本電子
JSM-6390LA
性 能
分解能[高真空モード]:3.0nm(二次電子像、30kV)
分解能[低真空モード]:4.0nm(反射電子像、30kV)
倍率:5~300,000倍
加速電圧:0.5~30kV
エネルギー分散形X線分析 検出元素:B~U
用 途
各種試料の表面観察及び元素分析
設置年度
2007年
担 当
中丹支援技術室
TEL 0773-43-4340     FAX 0773-43-4341
E-mail chutan@kptc.jp
使用料(基本額)
観察のみ
観察+元素分析