各種材料の組織観察のため、イオンビームを用いた凹凸が少ない表面の試料を作成することができます。
- メーカ・型式
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日本電子
IB-19530CP - 性 能
- イオン加速電圧 2～8kV
ミリングスピード 500μm/h
自動スイング機能 ±30°
最大試料サイズ 11mm(幅)×10mm(長さ)×2mm(厚さ)
CCDカメラによる試料位置合わせ - 用 途
- イオンビームを用いた試料面の作製
- 設置年度
- 2017年度
- 担 当
- 中丹支援技術室
- TEL 0773－43－4340
- FAX 0773－43－4341
E-mail chutan@kptc.jp - 使用料（基本額）
- こちらをご覧ください
参考情報