この装置は測定対象物にX線を照射したときに対象物を構成する結晶から発生（回折）するX線のパターンを測定することで、結晶の向きや大きさ、規則性や物質の種類や量を調べることができます。
　粉体や固体、薄膜など様々な形状や状態の試料を非破壊で迅速に測定することができるため、異物の特定や製品開発における材料分析まで幅広く用いることが可能です。