この装置は測定対象物にX線を照射したときに対象物を構成する結晶から発生（回折）するX線のパターンを測定することで、結晶の向きや大きさ、規則性や物質の種類や量を調べることができます。
粉体や固体、薄膜など様々な形状や状態の試料を非破壊で迅速に測定することができるため、異物の特定や製品開発における材料分析まで幅広く用いることが可能です。
- メーカ・型式
- ㈱リガク・SmartLab 3kW
- 性 能
- 最大定格出力：3kW
測定範囲：-10°～160°（２θ） - 測定・解析
- 粉末（定性）、薄膜、微小部、In-plane測定
応力、小角散乱、配向、リードベルト解析 - 設置年度
- 2024年
- 担 当
- 応用技術課 表面構造係
TEL 075－315－8634 FAX 075－315－9497
E-mail ouyou@kptc.jp - 使用料（基本額）
- こちらをご覧ください
- 依頼試験手数料（基本額）
- こちらをご覧ください
- 公益財団法人JKA補助機器（競輪補助物件）
- ☆よくある質問（FAQ）
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(1)機器貸付の区分の（定性）と（全仕様）でできる範囲はどこまでですか。
（定性）はCu管球で基本的な粉末やバルクの測定の集中法や平行法の設定で測定できるものです。
（全仕様）はそれ以外の測定です。（薄膜、微小部、小角散乱等）
(2)1測定にかかる時間はどれくらいですか。
測定時間は測定角度（何度から何度までの測定か）とスキャンスピード（度/分）によります。集中法は0.1~100度/分、平行法は0.001~12度/分の間で設定できます。1測定15分程度で測定し、結果により検討ください。