FEオージェ電子分光分析装置
この装置は、材料表面の微小部分の元素分析を行うものです。このため、機械部品表面の微小部分、電気部品の接点、薄膜材料の評価など、製品開発や品質管理等に利用されています。 当センターの装置は、同軸円筒型電子分光器を搭載してお […]
代表 075-315-2811(総務課) | 各担当はこちらから
この装置は、材料表面の微小部分の元素分析を行うものです。このため、機械部品表面の微小部分、電気部品の接点、薄膜材料の評価など、製品開発や品質管理等に利用されています。 当センターの装置は、同軸円筒型電子分光器を搭載してお […]
この装置は、物質がどのような元素から構成されているかを調べる装置で、電子線を物質の表面に照射し、そこから発生する特性X線を検出する方法を用いています。 製品・部品の混入物・付着物の元素分析検査、製品・部品の […]
食品等の試料中に含まれる成分の精密質量を測定し、その成分の組成式(元素組成)の推定と同定を行うことができます。 主に、食品の機能性成分や医薬品等の成分分析に利用できます。 メーカー・型式 ブルカー・ダルトニクス株式会社 […]
蛍光スペクトルや励起スペクトル、蛍光の時間変化等を測定することで、有機ELなど発光材料の特性を評価することが可能です。 メーカー・型式 株式会社日立ハイテクノロジーズ F-7000 仕 様 光源 : 150Wキセノンラ […]
この装置は、紫外域から近赤外域までの広範囲な波長領域で、微小部位や微小試料の透過率・反射率を数μm~数十μm領域の微小域で計測する機器です。 こちらの記事も参考にしてくだい。 クリエイティブ京都M& […]
数μmエリアの微小部の化学結合状態をラマンスペクトルとして測定するだけでなく、イメージ化することによって視覚的に化学結合状態の違いを評価することができます。 メーカー・型式 ナノフォトン株式会社 RAMANtouch 仕 […]
この装置は、金属、鉱石、セラミックス等の無機物中の炭素と硫黄の含有量を測定します。不明試料の鋼種特定、鉄鋼等の規格の適合確認などに利用できます。 メーカ・型式 LECO社 CS-844 性 能 高周波誘導 […]
この装置は、微小なレーザ・スポットを走査することで三次元座標を測定します。 接触式では対応困難な微細部品や金型、電子部品、傷つきやすい素材などの形状観察・評価を行います。 メーカ・型式 三鷹光器株式会社 N […]
二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。 エネルギー分散型X線検出器(EDS)を搭 […]
電磁波のスペクトル測定・評価が可能です。 メーカ・型式 アジレントテクノロジー社 N9000A 性 能 ・測定周波数範囲 9kHz~3GHz (KEC法では 100kHz~1GHz) ・トラッキングジェネレータ内蔵 […]