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測色色差計

　この装置では、各種試料(セラミックス・ガラス、釉薬、金属、ポリマー、絵具、紙、塗膜等)の呈する表面色の測定が可能です。 　測色データの出力形式には多数あり、それぞれ選択可能となっています。 　固体、液体、粉体試料の測定 […]

分光蛍光光度計

　蛍光スペクトルや励起スペクトル、蛍光の時間変化等を測定することで、有機ELなど発光材料の特性を評価することが可能です。 メーカー・型式 株式会社日立ハイテクノロジーズ F－7000 仕　様 光源 ： 150Ｗキセノンラ […]

ＩＣＰ発光分光分析装置

　この装置は、6000～10000Kのアルゴンプラズマ中に霧状の溶液試料を導入することで元素固有のスペクトルを生じさせ、元素の定性・定量分析を行います。 メーカ・型式 エスアイアイ・ナノテクノロジー　株式会社 仕　様 シ […]

炭素硫黄分析装置

　この装置は、金属、鉱石、セラミックス等の無機物中の炭素と硫黄の含有量を測定します。不明試料の鋼種特定、鉄鋼等の規格の適合確認などに利用できます。   メーカ・型式 LECO社 CS－844 性　能 高周波誘導 […]

レーザプローブ式非接触三次元測定装置

この装置は、微小なレーザ・スポットを走査することで三次元座標を測定します。 接触式では対応困難な微細部品や金型、電子部品、傷つきやすい素材などの形状観察・評価を行います。   メーカ・型式 三鷹光器株式会社 N […]

走査電子顕微鏡(SEM)

　この装置は、各種材料の微細構造の高倍率観察に利用できます。光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面を観察でき、焦点深度が深いので、立体感のある鮮明な像が得られます。   メーカ・型式 日本電子株式会社 JSM－6 […]

分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS)

　二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。 　エネルギー分散型Ｘ線検出器(EDS)を搭 […]