走査電子顕微鏡(SEM)

 この装置は、各種材料の微細構造の高倍率観察に利用できます。光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面を観察でき、焦点深度が深いので、立体感のある鮮明な像が得られます。   メーカ・型式 日本電子株式会社 JSM-6 […]

分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS)

 二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。  エネルギー分散型X線検出器(EDS)を搭 […]