分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS)

 二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。  エネルギー分散型X線検出器(EDS)を搭 […]