分析型走査電子顕微鏡 (SEM-EDS)
二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。 エネルギー分散型X線検出器(EDS)を搭 […]
代表 075-315-2811(総務課) | 各担当はこちらから
二次電子像による表面観察、反射電子像による組成分布の観察やEDSによる元素分析ができます。はんだ接合部やめっき断面の成分分析や、金属の破断の原因調査などにご利用いただけます。 エネルギー分散型X線検出器(EDS)を搭 […]
この顕微鏡は、金属やセラミックスなど不透明試料の表面性状観察に適しています。 メーカ・型式 オリンパス・GX51(本体) /DP72(デジタルカメラ) 観察法 明視野 / 暗視野 / 微分干渉 / 簡易偏光 対物レンズ […]