材料解析技術セミナー(会場:綾部) 28年度事業実績

日 時  内     容 
2016年
2月27日(木)
13:30~15:45
  

「FTIR・赤外顕微鏡による異物/不良解析」  
     ~自動不良解析システムの活用~

  ㈱島津製作所 分析計測事業部 
  グローバルアプリケーション開発センター 岩前はるか 氏
  <概要>
  ついに不良解析は自動で行う時代へ。観察・測定位置決定・測定・解析・・・
  全ての人をサポートする自動解析システムをご紹介します。

「フタル酸エステル類のスクリーニング専用システムのご紹介」  
 ~RoHS指令への追加に向けて~

  ㈱島津製作所 分析計測事業部 
  グローバルアプリケーション開発センター 石谷英司 氏

  <概要>
  RoHS指令の禁止物質にフタル酸エステル類が追加される中、PY-GC/MS法が注目
  されている。簡単な操作でスクリ-ニングが可能な「専用システム」を開発しまし
  たので、ご紹介します。