「液体クロマトグラフ質量分析コース」

2015年7月24日(金)　13:30～16:30

有機化合物の質量分析を行うためのLC-TOF/MSの基本的な操作や活用方法に
ついて、機器を使用して説明、実習を行います。

植村 技師

「微小部観察・分析コース」

2015年8月24日(月)　13:30～16:30

走査電子顕微鏡と電子線マイクロアナライザーの各機器の概要や基礎的な内容に
ついて、機器を使用して説明、実習を行います。

山口 技師、中村 主任研究員

「構造解析コース」

2015年8月28日(金)　13:30～16:30

フーリエ変換赤外分光光度計。レーザーラマン顕微鏡、顕微紫外可視赤外分光
光度計の基本的な操作データの解析など基礎的な内容について、機器を使用し
て説明、実習を行います。

関 主任研究員、鴨井 技師

「非破壊検査コース」

2015年10月15日(木)　13:30～16:30

鋳物製品、電気製品から電子基板まで様々な試料を対象に、破壊せずに内部の
透過像を観察できる工業用Ｘ線透視装置及びマイクロフォーカスＸ線CTについ
て説明、実習を行います。

松延 主任研究員、小山 主任

「精密測定コース」

2015年10月22日(木)　13:30～16:30

曲面微細形状測定システム、画像測定機、レーザープローブ式非接触三次元測
定装置の概要説明と機器を使用しての操作説明を行います。

宮内 副主査、前田 副主査、後藤 副主査

「表面物性コース」

2015年11月5日(木)　13:30～16:30

ナノインデーテーション試験機及び表面物性試験装置の概要説明と機器を
使用しての操作説明を行います。

松延 主任研究員、中村 主任研究員

「液体クロマトグラフ質量分析コース」

2015年11月13日(金)　13:30～16:30

有機化合物の質量分析を行うためのLC-TOF/MSの基本的な操作や活用方法について、
機器を使用して、説明、実習を行います。

植村技師

「表面分析コース」

2016年1月14日(木)　10:00～16:00

オージェ電子分析装置、X線光電子分析装置及びグロー放電発光装置の
概要説明と機器を使用しての操作説明を行います。

大藤 主任研究員、鴨井 技師、松延 主任研究員

「材料分析コース」

2016年1月15日(金)　13:30～16:30

蛍光X線分析装置及び蛍光X線膜厚計の概要説明と機器を使用しての
操作説明を行います。

山口技師、中村 主任研究員