日　　時  

2018年
 7月19日(木)
   10:00
　～17:00

「走査電子顕微鏡(JSM-IT300HR)」

　観察と元素分析

日本電子株式会社
　菊池　辰佳　氏

「赤外線サーモグラフィ(R500EX-Pro)」

　静止画、動画による温度測定　

日本アビオニクス株式会社
　宮川　修氏

2018年
7月26日(木)
13:30
　～16:30

「蛍光Ｘ線分析装置(EDX-7000)」

　分析条件の設定

株式会社島津アクセス

　福本　一之氏

「スパーク放電発光分析装置(PDA-7000)」

　鋼、鋳鉄の元素分析

株式会社島津アクセス

　武藤　雅之氏

2019年
 2月1日(金)
   10:30
　～16:30

「クロスセクションポリッシャ(日本電子(株)製)」

　平面ﾐｰﾘﾝｸﾞ・断面ﾐｰﾘﾝｸﾞ質疑等

日本電子株式会社
　担当者

2019年
 2月5日(火)
10:30
　～16:30

「EBSD(結晶方位解析)(日本電子(株)製)」

　座学・サンプル解析質疑等

株式会社TSLソリューションズ　担当者

2019年
 2月12日(火)
13:30
　～16:30

「コンタミネーション解析システム((株)ハイロックス製)」

サンプル測定他

株式会社ハイロックス
大阪営業所　担当者

「三次元光学プロファイラー(ザイゴ社製)」
 座学　10：30～12：00

 サンプル測定(ワークショップ)
             13：00～16：30

アメテック株式会社
サイゴ事業部 担当者