この装置は、試料にＸ線を照射したときに発生する蛍光Ｘ線(物質固有の特性Ｘ線)を分光して測定します。その結果、金属・セラミックス・プラスチックなどの試料に含まれる元素の同定や含有量の推定に利用できます。
当センターの装置は波長分散型であり、ピークの分解能が優れており、軽元素のBから重元素のUまでの元素の定性分析ができます。標準試料を用いることで、より精度のよい定量分析も可能です。
基本的には、非破壊で、迅速に元素分析ができますが、ガラスなどでは変色する場合がありますので、注意が必要です。
- メーカ・型式
- 理学電機工業株式会社
ZSX PrimusⅡ - 性 能
- 定性分析、定量分析、薄膜分析、微小部分析・マッピング分析が可能
波長分散型測定元素範囲：B ～ U
最大試料装填数：48
試料サイズ：最大Φ50ｍｍ×30ｍｍ(h) (試料ホルダーに設置可能なもの) - 設置年度
- 2004年
- 担 当
- 基盤技術課 化学分析係
TEL 075－315－8633 FAX 075－315－9497
E-mail kiban@kptc.jp - 使用料（基本額）
- こちらをご覧ください
- 公益財団法人JKA補助機器（競輪補助物件）
(検索ﾜｰﾄﾞ:非表示)XRF,ＸＲＦ
参考情報