この装置は、試料にＸ線を照射したときに発生する蛍光Ｘ線(物質固有の特性Ｘ線)を分光して測定します。その結果、金属・セラミックス・プラスチックなどの試料に含まれる元素の種類や含有量の測定に利用できます。
当センターの装置は波長分散型であり、ピークの分解能が優れており、軽元素のBeから重元素のUまでの元素の定性・定量分析が高精度にできます。
基本的には、非破壊で、迅速に元素分析ができますが、ガラスなどでは着色する場合があります。また、異物の微小部分析やマッピング分析も可能です。
- メーカ・型式
- 理学電機工業株式会社
ZSX PrimusⅡ - 性 能
- 定性分析、定量分析、薄膜分析、微小部分析・マッピング分析が可能
波長分散型測定元素範囲：B ～ U
最大試料装填数：48
試料サイズ：最大Φ50ｍｍ×30ｍｍ(h) (試料ホルダーに設置可能なもの) - 設置年度
- 2004年
- 担 当
- 基盤技術課 化学分析係
TEL 075－315－8633 FAX 075－315－9497
E-mail kiban@kptc.jp - 使用料（基本額）
- こちらをご覧ください
- 公益財団法人JKA補助機器（競輪補助物件）
活用事例
材料分析
各種材料(金属・機械部品・電子部品・セラミックス・ガラス等の粉体試料・薄膜・樹脂・濾過物など)の成分分析、鋼種確認が出来、表面処理成分の種類の確認が可能です。
標準試料等の比較試料を用いることで、より精度の良い定量分析も可能で、容易に材質判定が出来ます。
異物分析
製品や製造工程中に混入した微細な異物の分析(機械部品・電子部品・樹脂・食品などの異物の分析、メッキ・塗料・合金中の介在物の分析など)が可能ですが、異物に対しては、装置付設のCCDカメラによる正確な分析位置合わせが必須です。
有害物質
環境規制の有害元素の分析(各種材料・プラスチック中の有害金属のスクリーニング分析など)が可能です。
測定試料サイズに制約がありますが、真空中で安定あれば、ほとんどのものが分析できます。
データの誤差は試料調整によって決まるといってよく、試料内の偏斥、試料測定面の状態(汚染、表面粗さ等)、不均一粒度、試料充塡の粗密、汚染などはデータに大きな誤差を与えますので、試料の採取、測定試料調整、保管等には注意が必要です。
また、吸湿性のある試料では、真空処理の関係で測定開始までに長時間必要です。
分析を行うには、事前に目的を明確にし、試料に関する情報を把握することが大切です。
蛍光Ｘ線分析は、試料全体のBeからＵまでの平均的な組成分析を行うのに適しており、微細試料や極表面の分析には、電子線マイクロアナライザーなど他の分析装置を目的や試料に応じて使い分けます。
また、他の分析と組み合わせて評価を行うこともできますので、お気軽にご相談ください。
＜分析事例：透光性アルミナの分析結果（チャート）＞
(検索ﾜｰﾄﾞ:非表示)XRF,ＸＲＦ
参考情報